پیش‌بینی فرسودگی حرارتی مبتنی بر انرژی در یک آرایه شبکه توپی – Energy-Based Thermal Fatigue Prediction in a Ball Grid Array
در سیستم خنک‌کننده، یک جزء میکروالکترونیکی به عنوان حلقۀ مهم شناخته شده است. از آنجا که برق به طور مکرر روشن و خاموش می‌شود، این جزء در معرض چرخۀ حرارتی قرار می‌گیرد. در نتیجه، یک شکاف از طریق اتصالات لحیم‌کاری رشد کرده و تراشه را از صفحۀ مدار چاپی جدا می‌کند تا مؤلفۀ عملکرد عملیاتی خود را از دست دهد. طول عمر اتصالات لحیم‌کاری در دو مجموعۀ شبکۀ توپی بر اساس مدل مبتنی بر انرژی دارووا پیش بینی شده است. مدل فرسودگی آسیب‌های مبتنی بر چگالی اتلاف انرژی متوسط را در یک لایۀ نازک که در آن یک ترک رشد می‌کند، ارزیابی می‌کند.
