تجزیه و تحلیل استرس یک ماژول IGBT تحت شرایط تست استرس با سرعت بالا (HAST).
Stress analysis of an IGBT module under the Highly Accelerated Stress Test (HAST) condition
تست استرس با سرعت بالا (HAST) یک تکنیک آزمایشی برای تسریع خرابی دستگاه های الکترونیکی در دمای بالا و محیط با رطوبت بالا است. این مدل تجزیه و تحلیل ساختاری یک ماژول IGBT محصور شده پلاستیکی را تحت شرایط تست HAST نشان می‌دهد. تنش حرارتی و تورم رطوبت سنجی، و همچنین انتقال رطوبت مورد بررسی قرار می گیرد.
https://www.comsol.com/model/stress-analysis-of-an-igbt-module-under-the-highly-accelerated-stress-test-hast-condition-124191
این لینک با استفاده از VPN باز می شود.